出版社：机械工业出版社
年代：2006
定价：56.0
本书系统地介绍了结构测试的理论和方法、可测试性设计理论和度量方法、测试数据的处理及简化的理论和方法以及智能芯片测试理论和方法。
| 书籍详细信息 | |||
| 书名 | 数字系统测试与可测试设计站内查询相似图书 | ||
| 丛书名 | 电子与电气工程丛书 | ||
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| 出版地 | 北京 | 出版单位 | 机械工业出版社 |
| 版次 | 1版 | 印次 | 1 |
| 定价(元) | 56.0 | 语种 | 简体中文 |
| 尺寸 | 26 | 装帧 | 平装 |
| 页数 | 455 | 印数 | 5000 |
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