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半导体材料－检测－分析
2007年
2007
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半导体的检测与分析
本书的主要内容包括：高分辨X射线衍射，光学性质检测分析，表面和薄膜成分分析，扫描探针显微学在半导体中...
2007.
按中图号分类
中图号G634
25254
中图号G624
8412
中图号I247.5
3499
中图号G613
1922
中图号G634.413
1671
中图号H31
1567
中图号J222.7
1559
中图号I267
1399
中图号I227
1103
中图号TP312
1082
中图号TP3
1016
中图号TP391.41
964
中图号G624.203
776
中图号G634.303
772
中图号B848.4-49
659
中图号H319.9
658
中图号G624.243
644
中图号H125.4
640
中图号B821-49
640
中图号H319.4：I
635
按出版社分类
北京教育出版社
3612
中国少年儿童出版社
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