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超大规模集成电路－测试－教材
2005年
2005
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超大规模集成电路测试
VLSI测试包括数字、存储器和混合信号三类电路测试，本书系统地介绍了这三类系统的测试和可测试性设计。全书...
2005.07
按中图号分类
中图号G634
13487
中图号G624
4516
中图号I247.5
2900
中图号Z121.5
2345
中图号G634.413
1613
中图号H31
1330
中图号I267
1267
中图号J222.7
1107
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中图号TP391.41
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中图号TP3
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720
中图号G634.303
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691
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中图号G613
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中图号G634.415
601
中图号H319.4
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