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超大规模集成电路－测试技术
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VLSI测试方法学和可测性设计
本书系统介绍大规模集成电路的测试方法学和可测试性设计，为读者进行更深层次的电路设计、模拟、测试和分析...
2005.01
按中图号分类
中图号G634
11832
中图号G624
3239
中图号I247.5
2329
中图号G634.413
1538
中图号I267
1287
中图号H31
1204
中图号H319.4
927
中图号TP391.41
910
中图号I227
859
中图号TP312
855
中图号G634.303
812
中图号F270
773
中图号I25
680
中图号TP3
652
中图号J222.7
620
中图号H319.9
595
中图号G624.203
519
中图号H125.4
516
中图号I247.7
515
中图号J228.2
504
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