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纳米材料－MOS集成电路－缺陷检测
2015年
2015
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纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测
设计方法和工艺技术的革新使得集成电路的复杂度持续增加。现代集成电路（IC）的高复杂度和纳米尺度特征极易...
2015.12
按中图号分类
中图号G634
23262
中图号G624
13502
中图号G613
5627
中图号I247.5
5266
中图号I267
3922
中图号I227
3213
中图号G613.3
2565
中图号I287.8
2291
中图号J222.7
2112
中图号G613.6
1806
中图号G624.243
1744
中图号H31
1738
中图号G624.203
1530
中图号G898.2
1491
中图号G613.2
1417
中图号G624.753
1371
中图号J228.2
1331
中图号I287.45
1288
中图号I287.7
1274
中图号I217.2
1191
按出版社分类
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