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数字集成电路－测试－设计
2006年
2006
搜索分类
数字集成电路与嵌入式内核系统可测性设计
本书介绍测试和可测试性设计基本概念。
2006.05
按中图号分类
中图号G634
15217
中图号G624
5180
中图号I247.5
2821
中图号G634.413
1386
中图号J222.7
1295
中图号H31
1269
中图号I267
1208
中图号TP391.41
955
中图号TP3
885
中图号I227
880
中图号TP312
877
中图号G613
789
中图号G634.303
659
中图号G624.243
646
中图号G624.203
599
中图号F270
588
中图号J214
583
中图号G634.415
559
中图号I25
543
中图号B848.4-49
524
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