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数字系统－系统设计－高等学校－教材－英文
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数字系统测试和可测性设计
本书共有15章，分为3部分。前8章为第一部分，主要介绍数字系统、数字微系统芯片缺陷的来源、逻辑描述的方法...
2003.
按中图号分类
中图号G634
9087
中图号G624
2577
中图号I247.5
2069
中图号G634.413
1407
中图号I267
1294
中图号H31
1206
中图号TP312
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中图号TP391.41
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中图号G624.203
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中图号TP3
693
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中图号H319.4：I
560
中图号G613
479
中图号H319.4
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