微波器件电磁损伤规律研究
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微波器件电磁损伤规律研究

谭志良, 等著

出版社:科学出版社

年代:2018

定价:88.0

书籍简介:

本书由浅入深、系统地介绍了几种常用的微波半导体器件的电磁损伤机理。为便于读者自学和参考,本书首先介绍了几种微波半导体器件基础知识和典型的电磁脉冲及其效应;然后重点通过仿真分析和实验分析介绍了几种微波半导体器件的电磁损伤机理;最后简要介绍了几种半导体器件电磁损伤模型。

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书籍详细信息
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9787030591128
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出版地北京出版单位科学出版社
版次1版印次1
定价(元)88.0语种简体中文
尺寸24 × 17装帧平装
页数 220 印数

书籍信息归属:

微波器件电磁损伤规律研究是科学出版社于2018.10出版的中图分类号为 TN385 的主题关于 微波半导体器件-研究 的书籍。