书籍简介:

本书理论和实践相结合，首先对I/OLibrary进行了概略说明，包括I/OLibrary在芯片设计中的功能、设计流程等；接着介绍了I/O 电路中的ESD现象、ESD的测试方法和多种ESD保护功能模块的设计；然后着重对闩锁现象、针对GPIO的功能电路以及高速I/O电路的电路补偿方法等进行讲解；最后对其未来发展进行了展望。

书籍规格:

书籍详细信息
书名	芯片接口库I/O Library和ESD电路的研发设计应用站内查询相似图书
	9787115487063 如需购买下载《芯片接口库I/O Library和ESD电路的研发设计应用》pdf扫描版电子书或查询更多相关信息，请直接复制isbn,搜索即可全网搜索该ISBN
出版地	北京	出版单位	人民邮电出版社
版次	1版	印次	1
定价(元)	69.0	语种	简体中文
尺寸	26 × 19	装帧	平装
页数	184	印数	2000

全网搜索试读资源

书籍信息归属:

芯片接口库I/O Library和ESD电路的研发设计应用是人民邮电出版社于2018.8出版的中图分类号为 TN430.2 的主题关于接口芯片－电路设计的书籍。