书籍简介:

这本书论述了数字系统测试和可测性设计，它通过数字电路设计实例和方法阐明了测试和可测试性的概念。本书还采用Verilog模型和Verilog测试平台实现并解释故障仿真和测试生成算法。本书的最大特点是广泛地使用Verilog和Verilog PLI编写测试应用，这把本书与其他讨论测试和可测试性的书籍区分开来。

书籍规格:

书籍详细信息
书名	数字系统测试和可测试性设计站内查询相似图书
丛书名	电子与嵌入式系统设计译丛
	9787111501541 如需购买下载《数字系统测试和可测试性设计》pdf扫描版电子书或查询更多相关信息，请直接复制isbn,搜索即可全网搜索该ISBN
出版地	北京	出版单位	机械工业出版社
版次	1版	印次	1
定价(元)	79.0	语种	简体中文
尺寸	19 × 24	装帧	平装
页数	435	印数	4000

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书籍信息归属:

数字系统测试和可测试性设计是机械工业出版社于2015.4出版的中图分类号为 TP271 的主题关于数字系统－系统测试的书籍。