书籍简介:

随着Si纳米MOS器件尺寸不断缩小，低频噪声幅度越来越大。本书对纳米MOS器件中的低频噪声进行了系统的研究，包括纳米MOS器件低频招式测量和分析方法、漏源电流RTS噪声的研究、栅电流噪声的研究、背景1/f噪声的研究等。

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	9787536950948 如需购买下载《纳米MOS器件中的低频噪声》pdf扫描版电子书或查询更多相关信息，请直接复制isbn,搜索即可全网搜索该ISBN
出版地	西安	出版单位	陕西科学技术出版社
版次	1版	印次	1
定价(元)	30.0	语种	简体中文
尺寸	26 × 19	装帧	平装
页数		印数

纳米MOS器件中的低频噪声是陕西科学技术出版社于2011.6出版的中图分类号为 TN4 的主题关于纳米材料－微电子技术－电子器件－低噪声－研究的书籍。