综合孔径成像原理与应用
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综合孔径成像原理与应用

刘丽, 江月松, 著

出版社:国防工业出版社

年代:2013

定价:58.0

书籍简介:

本书主要包括:范西特—泽尼克定理、阵列优化和设计、相位误差和相位校正、图像重构和图像复原、光学综合孔径直接成像系统原理、探测器采样、被动毫米波综合孔径成像系统、多圆周阵列结构及其优化、相位误差测量与补偿方法、改进型维纳滤波法、图像重构技术综合孔径成像系统的最新技术等内容。第一章综合孔径成像导论。本章介绍了综合孔径成像技术的基本概念、分类、国内外研究现状,以及目前主流的应用。第二章综合孔径成像基础。本章简述了掌握综合孔径成像技术所必备的数学基础,如卷积、相关、傅里叶变换等运算,以及相关的物理基础,如非相干成像系统中的点扩散函数和光学传递函数、部分相干成像理论中著名的范西特—泽尼克定理。第三章综合孔径成像的关键技术。本章综述了综合孔径成像系统的三个共性关键技术,包括阵列优化和设计、相位误差和相位校正以及图像重构和图像复原。第四章光学综合孔径直接成像系统。本章针对光学波段的综合孔径成像系统进行了深入分析,介绍了光学综合孔径直接成像系统的原理,并分别阐述了阵列优化和设计、相位误差和相位校正、图像重构和图像复原、探测器采样等关键问题,最后给出了实验方法。第五章被动毫米波综合孔径成像系统。本章针对毫米波段的综合孔径成像系统进行深入分析,介绍了被动综合孔径光子成像原理、阵列结构优化、相位误差测量与补偿方法、图像重构技术等关键问题。第六章综合孔径成像系统的新进展。本章介绍了综合孔径成像系统的最新技术,对未来的发展进行了展望。

书籍目录:

第1章 综合孔径成像技术导论

1.1 综合孔径成像技术概述

1.2 综合孔径成像技术原理

1.2.1 光学综合孔径成像原理

1.2.2 被动毫米波综合孔径成像原理

1.3 综合孔径成像技术发展现状

1.3.1 光学综合孔径成像技术发展现状

1.3.2 被动毫米波综合孔径成像技术发展现状

1.4 综合孔径成像系统关键技术

1.4.1 阵列优化和设计

1.4.2 相位误差和校正

1.4.3 图像重构和图像复原

第2章 综合孔径成像基础

2.1 数学基础

2.1.1 卷积和相关

2.1.2 傅里叶变换

2.1.3 线性系统分析

2.2 物理基础

2.2.1 非相干光学成像系统

2.2.2 范西特一泽尼克定理

2.2.3 被动辐射测量基础

第3章 光学综合孔径直接成像系统

3.1 基本原理

3.1.1 等效模型

3.1.2 特征指标

3.2 阵列优化和设计

3.2.1 典型阵列结构

3.2.2 多圆周阵列结构

3.2.3 多圆周阵列的优化

3.3 相位误差和校正

3.3.1 光束合成误差分析

3.3.2 冗余基线校正方法

3.3.3 一维RSC阵列的优化

3.3.4 圆周RSC阵列的优化

3.4 图像复原

3.4.1 经典图像复原法

3.4.2 图像质量评价方法

3.4.3 维纳滤波法在光学综合孔径中的应用

3.5 实验研究

3.5.1 模拟实验系统

3.5.2 望远镜光阑实验

3.5.3 冗余基线校正模板实验

3.5.4 光学综合孔径遥感系统

3.6 本章小结

第4章 被动毫米波综合孔径成像系统

4.1 基本原理

4.1.1 被动综合孔径干涉成像原理

4.1.2 被动综合孔径光子成像原理

4.1.3 光子成像系统主要性能分析

4.2 阵列设计和优化

4.2.1 引言

4.2.2 优化基础

4.2.3 优化准则

4.2.4 优化算法

4.2.5 优化结果

4.3 相位误差和校正

4.3.1 闭合相位校正

4.3.2 载波干涉校正技术

4.3.3 基于光子晶体的全息相位校正技术

4.4 重构成像算法

4.4.1 引言

4.4.2 Gridding算法

4.4.3 CLEAN算法

4.5 实验研究

4.5.1 基于光纤传输的二元干涉实验

4.5.2 基于光纤传输的毫米波探测实验

4.6 本章小结

第5章 综合孔径成像技术展望

5.1 被动综合孔径宽带成像技术

5.2 被动毫米波直接电光调制技术

5.3 超分辨率处理与多光谱融合技术

5.4 复合相位误差测量与校正技术

5.5 多孔密瞳光学阵列

5.6 压缩感知综合孔径成像技术

参考文献

内容摘要:

综合孔径成像技术是指对多个小口径成像系统进行综合处理,从而等效于一个大口径成像系统的成像性能。目前其研究的工作波段覆盖了从微波到被动辐射的全部波段,通过机载和星载平台,该技术已被广泛应用于遥感与成像.射电天文学,环境、大气和海洋监测等。《综合孔径成像原理与应用》介绍了综合孔径成像技术的发展现状和基本原理,详细阐述了光学综合孔径成像系统和被动毫米波综合孔径成像系统的三个关键问题:阵列设计与优化,相位误差和校正,图像重构和复原等,并给出了相应的实验验证系统。
  《综合孔径成像原理与应用》是作者近几年来从事综合孔径成像的相关科研工作的总结和凝练,目的是为在校研究生和从事综合孔径成像技术研究与应用的科研人员提供一本内容详细的参考书。

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9787118088267
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出版地北京出版单位国防工业出版社
版次1版印次1
定价(元)58.0语种简体中文
尺寸21 × 15装帧平装
页数印数

书籍信息归属:

综合孔径成像原理与应用是国防工业出版社于2013.7出版的中图分类号为 O435.2 的主题关于 光学-孔径-成象 的书籍。