SoC设计和测试技术
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SoC设计和测试技术

刘文松, 等编著

出版社:东南大学出版社

年代:2016

定价:39.0

书籍简介:

本书系统讲解了SoC设计与测试技术所涉及的基础理论和工程实践。基础理论部分,内容涵盖了硬件描述语言、可编程逻辑器件、逻辑综合、自动布局布线等内容。工程实践部分,基于ARM平台讲解SoC系统设计和测试方法。

书籍规格:

书籍详细信息
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9787564167806
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出版地南京出版单位东南大学出版社
版次1版印次1
定价(元)39.0语种简体中文
尺寸24 × 17装帧平装
页数印数

书籍信息归属:

SoC设计和测试技术是东南大学出版社于2016.9出版的中图分类号为 TN4 的主题关于 集成电路-芯片-设计 ,集成电路-芯片-测试 的书籍。