出版社:科学出版社
年代:2009
定价:75.0
测试性与机内测试(BIT)是当前国内外装备保障研究和应用的热点之一,国内外研究和应用实践表明,机内测试(Built-inTest,BIT)技术是解决装备测试诊断与维修保障的最有效技术途径之一。但机内测试的一个国际性难题就是解决虚警问题,虚警的存在,极大地影响了机电系统BIT技术的发展和深入应用。因此,开展机电系统BIT降虚警技术的研究具有重要的学术价值和工程实际应用价值。本专著系统的对BIT的虚警问题开展研究,针对机电系统机内测试广泛存在的虚警问题,对虚警的产生原因、机理及表现形式进行了深入分析和建模,根据机电系统特点,从信号获取层、信号处理层、诊断决策层三个层次及时间应力导致虚警的抑制、控制系统鲁棒性降虚警等角度详细阐述了降虚警的原理、模型和技术方法,给出了降虚警技术在典型机电系统中的应用案例。
前言
第1章绪论
1.1机电系统BIT概述
1.1.1BIT基本概念
1.1.2BIT技术发展历程
1.1.3机电系统BIT基本概念及发展历程
1.2机电系统BIT降虚警技术研究现状
1.2.1BIT虚警概念及影响
1.2.2BIT降虚警技术研究现状
1.2.3机电系统BIT降虚警技术研究现状
1.3机电系统BIT降虚警技术体系
1.3.1机电系统BIT虚警特点
1.3.2机电系统BIT降虚警技术的总体框架
1.4本书篇章结构
参考文献
第2章传感层降虚警技术
2.1概述
本书针对机电系统机内测试广泛存在的虚警问题进行了系统的论述:对虚警的产生原因、机理及表现形式进行深入分析和建模;根据机电系统监控与诊断的特点,从基于征兆的监控诊断虚警、基于模型的监控诊断虚警和时间应力导致的虚警等角度,详细阐述了虚警抑制和降虚警的原理、模型和技术方法;给出了降虚警技术在典型机电系统中的应用案例。本书可作为高等院校相关专业研究生和高年级本科生的参考书,也可供从事装备设计、测试与维修保障的科研和工程技术人员参考。 测试性与机内测试是当前国内外装备设计、测试与维修保障领域研究和应用的热
书籍详细信息 | |||
书名 | 机电系统机内测试降虚警技术站内查询相似图书 | ||
丛书名 | 装备测试性工程系列丛书 | ||
9787030256515 如需购买下载《机电系统机内测试降虚警技术》pdf扫描版电子书或查询更多相关信息,请直接复制isbn,搜索即可全网搜索该ISBN | |||
出版地 | 北京 | 出版单位 | 科学出版社 |
版次 | 1版 | 印次 | 1 |
定价(元) | 75.0 | 语种 | 简体中文 |
尺寸 | 24 × 0 | 装帧 | 平装 |
页数 | 印数 |
机电系统机内测试降虚警技术是科学出版社于2009.出版的中图分类号为 TM7 的主题关于 机电系统-机内测试-虚警-控制 的书籍。