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时万春等, 编著
出版社:化学工业出版社
年代:2005
定价:
本书介绍了SOC测试、测试开发系统、测试标准、测试验证系统等。
现代集成电路测试技术是化学工业出版社于2005.12出版的中图分类号为 TN407 的主题关于 集成电路-测试 的书籍。
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高成, 张栋, 王香芳, 编著
王芳, 徐振, 主编
邓善修, 主编
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(美) 内库加 (Nekoogar,F.) , 著