现代集成电路测试技术
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现代集成电路测试技术

时万春等, 编著

出版社:化学工业出版社

年代:2005

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书籍简介:

本书介绍了SOC测试、测试开发系统、测试标准、测试验证系统等。

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书籍详细信息
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9787502581312
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出版地北京出版单位化学工业出版社
版次1版印次1
定价(元)语种简体中文
尺寸26装帧平装
页数印数 5000
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书籍信息归属:

现代集成电路测试技术是化学工业出版社于2005.12出版的中图分类号为 TN407 的主题关于 集成电路-测试 的书籍。