书籍简介:

本书主要介绍了半导体材料常规电学参数的物理测量方法、检测晶体缺陷的化学腐蚀法等。

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书籍详细信息
书名	硅材料检测技术站内查询相似图书
丛书名	硅材料及太阳能光伏系列教材
	9787122055682 如需购买下载《硅材料检测技术》pdf扫描版电子书或查询更多相关信息，请直接复制isbn,搜索即可全网搜索该ISBN
出版地	北京	出版单位	化学工业出版社
版次	1版	印次	1
定价(元)	20.0	语种	简体中文
尺寸	19	装帧	平装
页数		印数

硅材料检测技术是化学工业出版社于2009.07出版的中图分类号为 TN304.1 的主题关于半导体材料－硅－检测－教材的书籍。