数字IC系统设计

第1章 IC系统设计概述 1.1 IC系统组成概述 1.2 IC系统设计概述 1.2.1 系统级设计 1.2.2 电路/逻辑设计 1.2.3 物理设计 1.3 IC系统验证分析概述 1.3.1 仿真 1.3.2 静态时序分析 1.3.3 功耗分析 1.3.4 形式验证 1.3.5 物理验证（DRC/LVS） 1.3.6 信号完整性分析 1.3.7 基于FPGA的验证 1.3.8 测试

第1章 IC系统设计概述 1.1 IC系统组成概述 1.2 IC系统设计概述 1.2.1 系统级设计 1.2.2 电路/逻辑设计 1.2.3 物理设计 1.3 IC系统验证分析概述 1.3.1 仿真 1.3.2 静态时序分析 1.3.3 功耗分析 1.3.4 形式验证 1.3.5 物理验证（DRC/LVS） 1.3.6 信号完整性分析 1.3.7 基于FPGA的验证 1.3.8 测试 1.4 IC系统设计的现状 第2章 系统设计——算法与架构 2.1 算法设计 2.1.1 算法设计基础 2.1.2 数字信号处理（DSP）算法综述 2.1.3 DSP算法的描述 2.2 IC系统架构设计 2.2.1 SOC架构 2.2.2 AHB总线 2.3 基于SystemC的IC系统设计 2.3.1 基于SystemC的设计流程 2.3.2 SystemC的数据类型 2.3.3 SystemC建模基础 2.3.4 利用SystemC进行系统建模的流程 2.4 系统设计工具SPW简介 第3章 数字IC系统的逻辑设计——RTL实现 3.1 RTL设计基础 3.1.1 同步电路设计要求 3.1.2 RTL设计步骤 3.1.3 复位策略 3.1.4 状态机的设计 3.1.5 多时钟域的处理 3.1.6 时钟切换电路 3.2 RTL设计指南（Verilog） 3.2.1 命名规则 3.2.2 设计风格 第4章 数字IC系统逻辑设计基础 4.1 数字IC系统基础： 晶体管、反相器、寄存器 4.1.1 MOS晶体管 4.1.2 反相器 4.1.3 寄存器 4.2 标准单元 4.2.1 标准单元的仿真模型基础 4.2.2 标准单元的综合模型基础 4.2.3 反相器的综合模型 4.2.4 寄存器的综合库模型 4.3 数据通路的designware实现 4.3.1 加法器Dw01-add 4.3.2 乘法器Sw02-mult 第5章 IC设计中的综合技术 5.1 逻辑综合 5.1.1 综合策略 5.1.2 DC中的重要变量及命令 5.2 物理综合 第6章 可测性设计 6.1 可测性设计综述 6.1.1 测试仪 6.1.2 故障模型 6.1.3 可测试设计方法概述 6.1.4 自动测试向量生成 6.2 基于扫描路径的可测性设计 6.2.1 扫描链基本原理 6.2.2 面向扫描测试的RTL设计 6.2.3 扫描链的综合 6.3 基于JTAG的可测性设计 6.3.1 JTAG基础 6.3.2 边界扫描的实现 6.4 基于BIST的可测性设计 6.5 自动测试向量的生成——ATPG第7章 静态时序分析 7.1 静态时序分析原理 7.2 静态时序分析中时钟的建模 7.3 静态时序分析中的常见问题 7.3.1 多周期路径的设置 7.3.2 DFT模式 7.3.3 时钟门控信号的时序分析 第8章 形式验证 8.1 等价性验证基础 8.2 formality脚本 8.3 verplex脚本 第9章 低功耗设计与功耗分析 9.1 IC系统中的功耗 9.2 低功耗设计技术综述 9.2.1 系统级的低功耗设计 9.2.2 RTL级的低功耗设计 9.2.3 逻辑级的功耗优化技术 9.2.4 电路级的低功耗设计 9.2.5 物理级的低功耗设计 9.3 功耗分析 9.3.1 基于Power Compiler的功耗分析技术 9.3.2 基于PrimePower的功耗分析技术附录 版本管理软件CVS 参考文献

IC设计是一个实践性很强的行业。IC设计师经常发现，书本上学到的东西，和实践往往有一定的距离。本书结合最先进的工具和设计方法，针对IC系统设计中几个重要的专题进行了较为深入的讨论。 全书共分9章。第1章概述了IC设计流程及常用EDA工具；第2章介绍了算法及架构设计，对数字信号处理算法的开发、AMBA片上总线、SystemC设计语言进行了概述；第3章对RTL设计中的一些重要问题进行了说明，并给出了HDL设计指南；第4章对逻辑综合库进行了深入讲解，这是理解逻辑综合和静态时序分析的基础；第5章介绍了高级综合技术，包括自动芯片综合和物理综合；第6章对可测性设计进行了较深入阐述；第7章讲解了静态时序分析的一些重要专题；第8章介绍了实际中的形式验证技术；第9章对低功耗设计技术进行了讨论。 本书主要针对IC设计人员，也可作为高等院校相关专业师生的参考书。