基于分子模拟的典型绝缘材料介电特性研究
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基于分子模拟的典型绝缘材料介电特性研究

谢小军, 著

出版社:西安交通大学出版社

年代:2017

定价:29.8

书籍简介:

本文针对这两种不同的电介质材料,研究如何准确建立微观结构模型,并利用分子模拟技术研究材料本征介电特性,分析缺陷在不同温度下对于介电特性的影响。研究材料相变特性,分析相变对于介电特性的影响规律。研究成果对于深入分析电介质材料的介电特性,进一步预测电介质材料在不同温度下的介电特性,指导材料的应用具有重要意义。

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9787560599021
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出版地西安出版单位西安交通大学出版社
版次1版印次1
定价(元)29.8语种简体中文
尺寸24 × 17装帧平装
页数印数
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书籍信息归属:

基于分子模拟的典型绝缘材料介电特性研究是西安交通大学出版社于2017.7出版的中图分类号为 TM21 的主题关于 绝缘材料-介电性质-研究 的书籍。