X射线荧光光谱的基本参数法
X射线荧光光谱的基本参数法封面图

X射线荧光光谱的基本参数法

卓尚军, 陶光仪, 韩小元, 著

出版社:上海科学技术出版社

年代:2010

定价:58.0

书籍简介:

本书是介绍X射线荧光光谱分析中的基本参数法的专业著作。详细论述了基本参数法中一些基本参数的优化方法和这些优化对基本参数法分析结果的影响,并给出了应用实例。

书籍目录:

第1章X射线荧光光谱分析概述

第2章基本参数法中的基本参数

第3章理论强度计算和基本参数优化

第4章散射效应增强荧光强度基本参数计算

第5章多层膜样品X射线荧光强度计算中的问题

第6章基本参数法的实现

第7章基本参数法的应用

附表

内容摘要:

  本书重点讲述基本参数法,包括理论强度的计算、计算所需的基本参数、基本参数的优化、基本参数法的实现和应用,为了方便读者,附表中还列出了重要的基本参数。  本书共分7章,其中第1章简要介绍X射线荧光光谱的基本原理,第2章讲述基本参数及其优化,第3章讲述理论强度的计算,第4章讲述散射对理论荧光强度的影响,第5章则讲述了多层膜样品中荧光强度计算的问题,第6章介绍了如何实现基本参数法,第7章是应用实例。  本书是X射线荧光光谱分析领域专门讲述基本参数法的第一本书。书中,作者结合自己的研究成果和实践经验,系统而详细地介绍了X射线荧光光谱分析中的基本参数法的基本原理、方法中用到的各种基本参数、理论荧光强度计算、散射对理论荧光强度的影响、多层膜样品中荧光强度计算的问题、基本参数法的实现和应用实例,书末还列出了重要的基本参数。  本书可供从事X射线荧光光谱研究与实际分析的科研和技术人员阅读,也可作为X射线荧光光谱分析或相关专业教师和研究生的参考读物。

书籍规格:

书籍详细信息
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9787547805077
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出版地上海出版单位上海科学技术出版社
版次1版印次1
定价(元)58.0语种简体中文
尺寸21 × 14装帧精装
页数 436 印数
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书籍信息归属:

X射线荧光光谱的基本参数法是上海科学技术出版社于2010.10出版的中图分类号为 O657.34 的主题关于 X射线荧光光谱法-荧光分析 的书籍。