互换性与技术测量基础
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互换性与技术测量基础

王莉静, 郝龙, 吴金文, 主编

出版社:华中科技大学出版社

年代:2020

定价:38.0

书籍简介:

本书分为9章,主要包括我国公差与配合方面的最新标准,阐述了技术测量的基本原理,主要包括绪论,测量技术基础,极限与配合,几何公差,表面粗糙度及其评定,光滑工件尺寸的检验和光滑极限量规的设计,常用典型件的互换性,圆柱齿轮公差与检测,尺寸链计算

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书籍详细信息
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9787568059763
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出版地武汉出版单位华中科技大学出版社
版次1版印次1
定价(元)38.0语种简体中文
尺寸26 × 18装帧平装
页数印数

书籍信息归属:

互换性与技术测量基础是华中科技大学出版社于2019.12出版的中图分类号为 TG801 的主题关于 零部件-互换性-高等学校-教材 ,零部件-技术测量-高等学校-教材 的书籍。