书籍简介:

本书对系统芯片SoC的设计与测试技术进行了全面阐述。全书共分为16章，主要内容包括：系统芯片的设计模式与流程、系统芯片的总线结构、IP芯核的设计、软/硬件协同设计、系统芯片的存储系统设计、系统芯片的低功耗耗设计、系统芯片的验证、系统芯片的物理设计、系统芯片的可测性设计、信号完整性、数字逻辑芯核的测试、模拟与混合信号芯核的测试、嵌入式存储器的测试、测试调度与测试结构的优化设计、系统芯片设计实例：多媒体IP芯核、网络芯片（NoC）。本书不仅介绍了系统芯片的设计与测试领域的最新发展，同时也包括了作者多年来的科研工作成果。

书籍目录:

前言

第1章绪论

1．1集成电路的设计流程

1．2系统芯片的结构

1．3系统芯片的关键技术

1．3．1设计复用

1．3．2低功耗设计

1．3．3软硬件协同设计

1．3．4总线架构

1．3．5可测性设计

1．3．6设计验证

1．3．7物理综合

第2章系统芯片的设计模式与流程

2．1系统芯片的系统级设计

2．2系统芯片的设计流程

2．3系统芯片的设计方法学

第3章系统芯片的总线结构

3．1AMBA总线

3．1．1先进高性能总线

3．1．2先进系统总线

3．1．3先进外设

内容摘要:

　　本书共15章，内容包括：系统芯片的设计模式与流程、系统芯片的总线结构、芯核设计、软硬件协同设计、系统芯片的存储系统设计、系统芯片中模拟/混合信号的设计、系统芯片的低功耗设计、信号完整性、系统芯片的验证、系统芯片的可测性设计、测试调度与测试结构的优化设计、芯核的测试、系统芯片的物理设计、片上网络等。　　本书可作为电子、通信、计算机、自动控制等学科高年级本科生和研究生的教材。　　系统芯片SoC能实现一个系统的功能，它是从整个系统的功能和性能出发，采用软硬结合的设计和验证方法，利用芯核复用及深亚微米

书籍规格:

书籍详细信息
书名	系统芯片SoC的设计与测试站内查询相似图书
	9787030256720 如需购买下载《系统芯片SoC的设计与测试》pdf扫描版电子书或查询更多相关信息，请直接复制isbn,搜索即可全网搜索该ISBN
出版地	北京	出版单位	科学出版社
版次	1版	印次	1
定价(元)	40.0	语种	简体中文
尺寸	24 × 0	装帧	平装
页数		印数

全网搜索试读资源

书籍信息归属:

系统芯片SoC的设计与测试是科学出版社于2009.出版的中图分类号为 TN402 的主题关于集成电路－芯片－设计的书籍。