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本书是专业学术研究性著作，理论联系实际，解决书中所提课题。

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书名	超深亚微米铜互连的失效机理与可靠性概述站内查询相似图书
	9787805948713 如需购买下载《超深亚微米铜互连的失效机理与可靠性概述》pdf扫描版电子书或查询更多相关信息，请直接复制isbn,搜索即可全网搜索该ISBN
出版地	西安	出版单位	西安出版社
版次	1版	印次	1
定价(元)	28.0	语种	简体中文
尺寸	13 × 10	装帧	平装
页数		印数

超深亚微米铜互连的失效机理与可靠性概述是西安出版社于2012.5出版的中图分类号为 TN405.97 的主题关于集成电路工艺－互连工艺的书籍。