书籍简介:

本书主要内容包括：基本概念、IEEE1149.X标准、单板级可测性设计、边界扫描测试应用、内建自测试技术、处理器测试技术、嵌入式测试技术。本书适合于相关领域工程技术人员阅读，也可作为高等院校电子信息、通信、测试测控、自动化等专业高年级学生或研究生的教学参考书。

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	9787118099867 如需购买下载《单板级JTAG测试技术》pdf扫描版电子书或查询更多相关信息，请直接复制isbn,搜索即可全网搜索该ISBN
出版地	北京	出版单位	国防工业出版社
版次	1版	印次	1
定价(元)	58.0	语种	简体中文
尺寸	21 × 15	装帧	平装
页数		印数

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单板级JTAG测试技术是国防工业出版社于2015.6出版的中图分类号为 TN407 的主题关于集成电路－测试技术的书籍。