数字逻辑电路测试与设计
数字逻辑电路测试与设计封面图

数字逻辑电路测试与设计

李玲, 主编

出版社:机械工业出版社

年代:2009

定价:32.0

书籍简介:

本书主要包括加法计算器的设计与测试,抢答器的设计与制作等。

书籍目录:

序言

项目1 加法计算器的设计与测试

模块1.1 逻辑门电路功能的测试

任务1.1.1 非门逻辑功能测试.

任务1.1.2 与门逻辑功能仿真测试

任务1.1.3 或门逻辑功能仿真测试

任务1.1.4 与非门逻辑功能测试

任务1.1.5 或非门逻辑功能测试

任务1.1.6 与或非门逻辑功能仿真测试

任务1.1.7 异或门逻辑功能测试

任务1.1.8 同或门逻辑功能仿真测试

任务1.1.9 TTL集电极开路门有关特性测试

任务1.1.10 三态门相关特性测试

任务1.1.11 CMOS门电路、TTL门电路外部应用特性测试

模块1.2 由门电路构成的组合逻辑电路功能测试任务组合逻辑电路逻辑功能测试

模块1.3 加法计数器的设计

任务1.3.1 3人表决电路的设计

任务1.3.2 简单加法计算器电路的设计

知识小结

思考与练习

项目2 抢答器的设计与制作

模块2.1 译码器功能的测试

任务2.1.1 显示译码器及LED数码管功能测试

任务2.1.2 变量译码器功能测试

任务2.1.3 变量译码器功能扩展测试

模块2.2 编码器功能的测试

任务2.2.1 二进制优先编码器功能测试

任务2.2.2 二一十进制优先编码器功能测试

任务2.2.3 二进制优先编码器功能扩展测试

模块2.3 锁存器功能的测试

任务8 路锁存器电路功能测试

模块2.4 抢答器电路设计

任务8 人抢答器的设计与制作

知识小结

思考与练习

项目3 计数器的设计与测试

模块3.1 触发器逻辑功能测试

任务3.1.1 基本RS触发逻辑功能测试

任务3.1.2 边沿D触发器逻辑功能测试

任务3.1.3 边沿JK触发器逻辑功能测试

模块3.2 简单计数器逻辑功能测试

任务3.2.1 计数器逻辑功能测试(一)

任务3.2.2 计数器逻辑功能测试(二)

任务3.2.3 数器逻辑功能测试(三)

任务3.2.4 同步时序电路设计

模块3.3 集成计数器的功能测试

任务3.3.1 集成计数器74LS161逻辑功能测试

任务3.3.2 集成计数器74LS390逻辑功能测试

模块3.4 计数器的设计与调试

任务3.4.1 用74LS160及简单门电路构成八进制计数器

任务3.4.2 数字钟中分钟指示电路设计与调试

知识小结

思考与练习

项目4 数字钟的设计与制作

模块4.1 MAX+plusⅡ软件操作训练

任务4.1.1 加法器模块的设计仿真

任务4.1.2 八进制计数器的设计

模块4.2 用VHDL语言设计功能模块

任务二十四进制计数器的设计

模块4.3 用可编程器件设计数字钟

任务数字钟的设计

知识小结

思考与练习

项目5 简易数字电压表的设计与制作

模块5.1 DAC逻辑功能测试

任务DAC0832逻辑功能测试

模块5.2 ADC逻辑功能测试

任务5.2.1 ADC0804逻辑功能测试

任务5.2.2 简易数字电压表的设计与制作

知识小结

思考与练习

附录

附录A 项目测试报告格式

附录B 项目设计报告格式

附录C 标准电路图纸格式

附录D 数字电路器件型号命名方法

附录E 数字电路常用器件引脚图

附录F 目标板电原理图

附录G 常见的编译错误信息及原因

参考文献

内容摘要:

《数字逻辑电路测试与设计》根据教育部关于高职高专人才培养目标的要求,以工作任务引领的方式将相关知识点融入在完成工作任务所必备的工作项目中,使学生掌握必要的基本理论知识,并使学生的实践能力、职业技能、分析问题和解决问题的能力不断提高。《数字逻辑电路测试与设计》共有5个项目:加法计算器的设计与测试,阐述了逻辑代数的基本知识及组合逻辑电路分析与设计的基本方法;抢答器的设计与制作,介绍了常用中规模集成电路的逻辑功能和使用方法;计数器的设计与测试,介绍了触发器的基本知识、简单时序电路的分析和设计方法、集成计数器的基本知识;数字钟的设计与制作,介绍了CPLD基本知识及如何用CPLD器件设计简单数字电路的基本方法;简易数字电压表的设计与制作,融入了A/D、D/A转换器件的基本知识介绍。
  《数字逻辑电路测试与设计》适合于高职高专电子技术、电子与信息技术、通信技术、自动控制和机电等专业学生使用,也可供从事电子、信息技术的有关人员参考。

编辑推荐:

理念的行进性:充分体现任务引领、实践导向的课程思想;项目的代表性:5个项目覆盖组合逻辑电路、时序逻辑电路、可编程逻辑器件(CPLD)应用、AD/DA基本原理及应用等知识;任务的操作性:40个任务由浅入深讲解小规模、中规模及大规模器件构成的数字集成电路的分析与设计方法;体例的科学性:用“读一读”、“做一做”和“想一想”把理论、实践和提高融于一体。

书籍规格:

书籍详细信息
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9787111270249
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出版地北京出版单位机械工业出版社
版次1版印次1
定价(元)32.0语种简体中文
尺寸26装帧平装
页数 317 印数 5000

书籍信息归属:

数字逻辑电路测试与设计是机械工业出版社于2009.06出版的中图分类号为 TN79 的主题关于 数字电路:逻辑电路-测试技术-高等学校:技术学校-教材 ,数字电路:逻辑电路-电路设计-高等学校:技术学校-教材 的书籍。