书籍简介:

本书简要介绍了相变存储器的基本原理及其发展，介绍了Sb-Te二元和Sb2Te3-GeTe伪二元合金的相图及结构、热物理性能的基本理论和已有的研究进展，详细介绍了热带法测量热传导、四探针法测量电传导以及静滴法测量密度技术的建立。介绍了下一代相变存储器用材料Ge-Sb-Te的热物理性能测量，主要包括热传导性能、电传导性能及密度。并结合热传导和电传导的数据，对Ge-Sb-Te合金的传导机理进行了讨论，给出了预测公式。

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书籍详细信息
书名	相变存储材料Ge-Sb-Te合金的热物理性能及其测量技术站内查询相似图书
	9787569313901 如需购买下载《相变存储材料Ge-Sb-Te合金的热物理性能及其测量技术》pdf扫描版电子书或查询更多相关信息，请直接复制isbn,搜索即可全网搜索该ISBN
出版地	西安	出版单位	西安交通大学出版社
版次	1版	印次	1
定价(元)	48.0	语种	英文
尺寸	24 × 17	装帧	平装
页数		印数

书籍信息归属:

相变存储材料Ge-Sb-Te合金的热物理性能及其测量技术是西安交通大学出版社于2019.12出版的中图分类号为 TP333.4 的主题关于相变－光存贮器－热物理性质－测量技术－研究－英文的书籍。