地籍测量学
地籍测量学封面图

地籍测量学

詹长根, 唐祥云, 刘丽, 编著

出版社:武汉大学出版社

年代:2010

定价:28.0

书籍简介:

本书阐述了地籍与地籍测量学的基本概念,详细介绍了地籍调查、地籍测绘以及数字测量、遥感和全球定位系统等技术在地籍测量中的应用。书后附有课间实验指导书和集中实习指导书。

书籍规格:

书籍详细信息
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9787307083172
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出版地武汉出版单位武汉大学出版社
版次3版印次1
定价(元)28.0语种简体中文
尺寸26 × 19装帧平装
页数印数

书籍信息归属:

地籍测量学是武汉大学出版社于2010.10出版的中图分类号为 P271 的主题关于 地籍测量-高等学校-教材 的书籍。