公差配合与技术测量
公差配合与技术测量封面图

公差配合与技术测量

袁斌, 代晨, 主编

出版社:武汉大学出版社

年代:2012

定价:30.0

书籍简介:

本书共分10章,内容包括绪论、极限与配合、测量技术基础、形位公差、表面粗糙度、圆锥的公差配合与检测、滚动轴承的公差配合、键与花键连接的公差配合与检测、螺纹连接的公差配合与检测、渐开线圆柱齿轮的公差配合与检测。

书籍规格:

书籍详细信息
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9787307100640
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出版地武汉出版单位武汉大学出版社
版次1版印次1
定价(元)30.0语种简体中文
尺寸26 × 19装帧平装
页数印数

书籍信息归属:

公差配合与技术测量是武汉大学出版社于2012.8出版的中图分类号为 TG801 的主题关于 技术测量 ,公差-配合 的书籍。