电子设备系统可靠性设计与试验技术指南

第1篇　可靠性工程与设备的可靠性指标

第1章　可靠性工程介绍

1.1什么是可靠性工程

1.2可靠性工程包括的内容

1.3什么是电子设备的可靠性

1.4固有可靠性和使用可靠性

1.5可靠性增长

1.6可靠性设计的主要任务和基本原则

第2章　可靠性的概率分布函数与可靠性的数量特征(指标)

2.1随机变量、分布函数、分布的参数

2.2可靠性常用的概率分布函数

2.3排列和组合

2.4规定产品可靠性数量特征(指标)的意义

2.5可靠性的主要数量特征(指标)及计算方法

第2篇　设备系统的总体可靠性设计

第1篇　可靠性工程与设备的可靠性指标

第1章　可靠性工程介绍

1.1什么是可靠性工程

1.2可靠性工程包括的内容

1.3什么是电子设备的可靠性

1.4固有可靠性和使用可靠性

1.5可靠性增长

1.6可靠性设计的主要任务和基本原则

第2章　可靠性的概率分布函数与可靠性的数量特征(指标)

2.1随机变量、分布函数、分布的参数

2.2可靠性常用的概率分布函数

2.3排列和组合

2.4规定产品可靠性数量特征(指标)的意义

2.5可靠性的主要数量特征(指标)及计算方法

第2篇　设备系统的总体可靠性设计

第3章　可靠性指标的论证与确定

3.1可靠性指标的论证

3.2确定设备系统可靠性指标的原则与方法

第4章　可靠性结构模型与数学模型

4.1建立可靠性模型的条件与原则

4.2可靠性结构模型的建立

4.3可靠性结构模型与数学模型

第5章　可靠性预计

5.1可靠性预计的作用

5.2可靠性预计的方法和程序

5.3详细的元器件应力分析预计法举例

第6章　可靠性指标的分配

6.1可靠性指标分配的作用

6.2可靠性分配的基本原则和注意事项

6.3可靠性分配方法和程序

第7章　系统的维修性和安全性设计

7.1系统的维修性设计

7.2安全性设计的要求和措施

第8章　可靠性设计与人的关系

8.1引言

8.2设计与生产

8.3人的因素理论与人机工程

8.4人的因素与可靠性之间的关系

8.5人一机分配与可靠性

8.6人的差错率的研究与预测方法

8.7人一机工程设计的一般要求

第3篇　保证设备系统可靠性的设计技术

第9章　元器件工程与降额设计

9.1设备系统实施元器件工程的重要性与主要工作内容

9.2降额设计

9.3降额设计的原则

9.4元器件选用准则及在工程中的应用

第10章　冗余设计

10.1概述

10.2冗余设计技术的分类及功能

10.3冗余设计技术介绍

10.4冗余系统的选择

10.5使用冗余系统应考虑的因素

第11章　环境影响及耐环境设计

11.1环境条件对设备可靠性的影响

11.2热设计技术

11.3防冲击和振动设计

第12章　电磁兼容设计

12.1电磁兼容概述

12.2电磁干扰源及干扰引入方式

12.3电磁兼容设计的一般要求

12.4抑制电磁干扰的一些方法

12.5电磁兼容性设计技术

第13章　其他可靠性设计技术

13.1简化电路设计及减少元器件品种和数量

13.2集成化设计

13.3采用成熟的新技术

第14章　可靠性分析技术

14.1失效模式、影响及危害度分析

14.2失效树分析法

第15章　可靠性设计评审

15.1设计评审的作用和目的

15.2设计评审的准备及评审的内容范围

15.3设计评审的组织及成员职责

15.4设计评审的程序与结论

第4篇　设备系统的可靠性试验

第16章　可靠性试验的基础知识

16.1影响产品可靠性的因素

16.2可靠性试验的定义与原理

16.3可靠性试验的种类及其目的

16.4正确评定设备的可靠性

第17章　统计试验方案

17.1试验参数的定义

17.2怎样正确选择试验参数

17.3试验方案的种类及选择试验方案的原则

17.4标准型试验方案及其判决标准

17.5试验样品数量和试验时间的确定

17.6恒定失效率有效性检验

17.7用试验观察数据估计设备的平均无故障工作时间(MTBF)

第18章　可靠性试验的一般要求

18.1试验类型的选择

18.2可靠性试验的设计

18.3可靠性鉴定试验前应具备的条件

18.4试验样品的要求

18.5试验设备、仪器仪表的要求

18.6试验实施的要求

18.7受试设备的检测要求

18.8受试设备接收与否的判决

18.9纠正措施

18.10预防性维护

18.11受试设备的复原

18.12对可靠性试验的检查与监督

第19章　试验条件选择及试验周期设计

19.1设备的分类

19.2试验条件的分类

19.3试验条件的选择

19.4对基本环境试验方法的要求

19.5试验中的工作条件

19.6试验周期(循环)与试验程序的设计

19.7推荐的试验周期

19.8编制可靠性试验程序的实例与说明

第20章　失效的分类、分析与处理

20.1失效的定义与分类

20.2失效时间的判定

20.3失效的处理方法

20.4失效的分析方法与要求

20.5失效的检测方法与要求

20.6失效的最后分类与相关失效数的确定

20.7制定纠正措施方案

第21章　试验的记录与报告

21.1可靠性试验报告

21.2可靠性试验测试记录

21.3可靠性试验失效综合报告表

21.4可靠性试验分析与修理报告表

第22章　现场可靠性试验

22.1试验的目的

22.2试验的一般要求

22.3试验条件

22.4受试设备性能和相关试验时间

22.5数据收集

22.6正确评定与比较现场可靠性试验与试验室模拟可靠性试验数据

第23章　可靠性试验技术与管理

23.1可靠性试验技术

23.2关于大中型电子设备的可靠性评定

23.3可靠性试验的管理

第24章　可靠性增长试验方法

24.1概述

24.2术语

24.3一般要求

24.4详细要求

24.5杜安可靠性增长模型的说明和MTBF移动平均值法的探讨

24.6AMsAA模型增长分析

参考文献

《电子设备系统可靠性设计与试验技术指南》(简称《指南》)是设备系统可靠性设计与试验技术专著。由卢昆祥等编著的《电子设备系统可靠性设计与试验技术指南》介绍了设备系统可靠性设计的方法与程序，可靠性试验的理论和方法。《指南》包括4篇24章，内容有可靠性工程介绍与设备的可靠性指标的种类和计算方法；设备系统的总体可靠性设计，如指标论证与确定、可靠性预计、分配方法等；可靠性设计各项设计技术。如降额、冗余、耐环境、电磁兼容、FMECA、FTA等设计技术；设备系统可靠性试验，包括基本理论、统计试验方案、一般要求、试验条件的选择和试验周期的设计。现场可靠性试验，可靠性增长试验，试验技术与管理等。本《指南》含有大量的实例和实践资料，融合了编著者从事可靠性工作20多年的经验和体会。内容全面，系统性强，理论联系实际，概念清楚，深入浅出，操作性强，通俗易懂。本《指南》的读者对象是从事设备可靠性设计、试验的工程技术人员、管理干部和使用方代表。可靠性设计的基本理论和方法，也可为电子元器件研制生产单位的设计人员和管理干部参考使用，还可供大专院校师生作为参考书，同时对其他与可靠性技术有关的科技工作者，也将有所裨益。