公差与测量技术
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公差与测量技术

姜明灿, 张正祥, 吴水萍, 主编

出版社:华中科技大学出版社

年代:2009

定价:18.5

书籍简介:

本书内容包括:测量技术基础、尺寸公差与检测、形位公差与检测、表面粗糙度与检测、圆锥和角度公差与检测、光滑极限量规设计、常见结合件(键连接、普通螺纹连接、滚动轴承)的公差与检测、尺寸链基础、渐开线圆柱齿轮精度简介等内容。

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书籍详细信息
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9787560938486
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出版地武汉出版单位华中科技大学出版社
版次1版印次2
定价(元)18.5语种简体中文
尺寸19装帧平装
页数印数
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书籍信息归属:

公差与测量技术是华中科技大学出版社于2006.12出版的中图分类号为 TG801 的主题关于 技术测量 ,公差-配合 的书籍。