光电技术基础

第一章 光电技术及光电器件基础1.1 光电技术及其特点、应用和发展1.1.1 光电技术的发展1.1.2 光电信息系统1.1.3 光电技术和光电检测1.1.4 光电技术的特点、应用和发展1.2 半导体物理基础1.2.1 半导体的能带和种类1.2.2 1型、n型和p型半导体1.2.3 热平衡条件下的载流子浓度1.2.4 载流子的运动1.2.5 半导体的结1.2.6 光辐射与半导体的相互作用1.3 光电效应1.3.1 光电效应概述1.3.2 光电效应的分类1.3.3 光电效应的几种现象1.4 光电器件的分类1.4.1 按工作波段分1.4.2 按应用分1.4.3 按反应机理（结构形式）分1.5 光电器件特性及评价基础1.5.1 响应特性1.5.2 噪声特性1.5.3 光电器件的空间分辨特性1.6 光电器件主要参数的测试1.6.1 厂响应率的测试1.6.2 光谱响应率函数的测试1.6.3 调制传递函数的测试思考题与习题参考文献第二章 发光器件及其应用2.1 电致发光原理2.1.1 电致激发过程2.1.2 辐射复合与非辐射复合过程2.1.3 注入式半导体发光器件的量子效率2.2 发光二极管结构与原理2.2.1 发光二极管的结构原理2.2.2 发光二棋管的材料选择2.2.3 发光二极管（led）使用须知2.3 发光二极管曲特性与参数2.3.1 伏安特性2.3.2 光谱特性2.3.3 发光特性2.3.4 温度特性2.3.5 辐射效率ηe2.3.6 发光二极管的参数2.4 半导体激光器2.4.1 激光的产生2.4.2 pn结注入式半导体激光器2.4.3 半导体激光器的性能2.5 发光器件的应用2.5.1 发光二极管应用实例2.5.2 半导体激光器的应用参考文献第三章 半导体光电器件3.1 光电导型光电探测器件3.1.1 光电导特性分析3.2 光敏电阻3.2.1 光敏电阻的工作原理3.2.2 光敏电阻的结构及种类3.3 势垒型光电探测器件3.3.1 光电池3.3.2 光电二极管3.3.3 光电三极管3.3.4 光电场效应管思考惠与习题第四章 真空光电器件4.1 光电发射与二次电子发射4.1.2 二次电子发射4.1.3 倍增极（打拿极）4.2 光电管4.2.1 真空光电管4.2.2 充气光电管4.2.3 光电管的应用——普朗克常数的测定4.3 光电倍增管4.3.1 光电倍增管的工作原理及结构4.3.2 光电倍增管的主要性能和参数4.3.3 光电倍增管使用注意要点4.3.4 光电倍增管的应用4.3.5 光电倍增管应用中的几个问题思考题与习题参考文献第五章 光电成像器件5.1 像管及其成像的物理过程5.1.1 光电成像原理的产生及发展5.1.2 光电成像器件的类型5.1.3 像管成像的物理过程5.2 像管的工作原理与结构5；2.1 光电阴极5.2.2 电子光学系统5.2.3 荧光屏5.2.4 光学纤维面板5.3 像管主要特性分析5.3.1 光电转换特性及参数5.3.2 时间响应特性5.3.3 噪声特性5.3.4 光学特性5.4 变像管5.5 像增强器5.5.1 第一代微光像增强器5.5.2 第二代微光像增强器5.5.3 x射线像增强器5.6 摄像管5.6.1 摄像管的分类和基本原理5.6.2 摄像管的主要参数思考题与习题参考文献第六章 电荷耦合器件6.1 电荷耦合器件的基本原理6.1.1 mos电容器的结构及性质6.1.2 电荷耦合器件的工作条件及要求6.1.3 电荷耦合器件的势阱深度与表面势的关系6.1.4 ccd的电荷耦合原理及信号传输6.2 电荷耦合器件的基本结构6.2.1 三相电极结构（三相ccd）6.2.2 二相电极结构（二相ccd）6.2.3 体内（埋沟）转移信道结构6.3 电荷耦合器件的特征参数6.3.1 转移效率及转移损失率6.3.2 电荷存储能力6.3.3 电荷耦合器件的噪声6.3.4 暗电流6.3.5 调制传递函数6.3.6 电荷耦合器件的动态范围6.3.7 功耗6.4 电荷耦合成像器件6.4.1 电荷耦合成像器件的原理与结构6.4.2 一维（线阵）电荷耦合成像器件（lccid）6.4.3 二维（列阵或面阵）电荷耦合成像器件（accid）6.4.4 电荷耦合成像器件性能分析6.5 微光电荷耦合成像器件6.5.1 光学耦合像增强器型ccd6.5.2 电子轰击式ccd6.5.3 电子倍增型ccd6.6 cmos成像器件6.6.1 cmos图像传感器的结构与工作原理6.6.2 cmos图像传感器的像元结构思考题与习题参考文献第七章 光电耦合器件及其应用7.1 光电耦合器件7.1.1 光电耦合器件的含义7.1.2 光电耦合器件的特点7.1.3 光电耦合器件的种类7.2 光电耦合器件的特性参数7.2.1 传输特性7.2.2 响应特性7.2.3 光电耦合器件的抗干扰特性7.3 光电耦合器件的应用7.3.1 光电耦合器件的电路设计7.3.2 光电耦合器件的应用实例参考文献第八章 典型实用光电系统8.1 光学传递函数测试仪8.1.1 仪器完成的任务8.1.2 光学传递函数测试仪的原理8.2 红外跟踪系统中的位标器8.3 莫尔条纹测长仪8.3.1 测长原理8.3.2 四倍频细分判向原理8.4 光电相位测距仪8.4.1 相位测距原理8.4.2 相位测距仪原理8.5 激光多普勒测速8.5.1 激光测流速的光学系统8.5.2 多普勒测速的信号处理方式8.6 傅里叶变换红外光谱仪8.6.1 工作原理8.6.2 信息处理中的几个问题参考文献附录 书中所用符号及意义

《光电技术基础》分为八章。第一章为光电技术及光电器件基础，主要介绍半导体物理基础、光电效应、光电器件的分类及其特性评价。第二章介绍发光器件及其应用。第三章介绍常用的半导体光电器件的工作原理、特性参数及其应用。第四章、第五章介绍以光电发射现象为基础而发展起来的真空光电器件、光电成像器件以及摄像管的工作原理、特性参数。第六章介绍固体成像器件及其应用，主要以电荷耦合器件为主。第七章介绍光电耦合器件及其应用。第八章以应用为目的，重点介绍几种典型的光电系统。　　《光电技术基础》可作为测控技术与仪器、光信息科学与技术、光电信息工程、精密仪器等专业的教材；也可作为从事光学技术与光电工程、检测及计量技术、自动化仪器仪表、信息工程、产品质量检测与控制等有关专业工程技术人员与科技人员的参考书。