书籍简介:

VLSI测试包括数字、存储器和混合信号三类电路测试，本书系统地介绍了这三类系统的测试和可测试性设计。全书共分三个部分。第一部分是测试基础，介绍了测试基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型。第二部分是测试方法，详细论述了组合和时序电路的测试生成、存储器测试、基于DSP和基于模型的模拟与混合信号测试、延迟测试和IDDQ测试等。第三部分是可测试性设计，包括扫描设计、BIST、边界扫描测试、模拟测试总线标准和基于IP芯核的SOC测试。

书籍规格:

书籍详细信息
书名	超大规模集成电路测试站内查询相似图书
丛书名	国外电子与通信教材系列
	9787121014901 如需购买下载《超大规模集成电路测试》pdf扫描版电子书或查询更多相关信息，请直接复制isbn,搜索即可全网搜索该ISBN
出版地	北京	出版单位	电子工业出版社
版次	1版	印次	1
定价(元)	49.0	语种	简体中文
尺寸	26	装帧	平装
页数		印数	5000

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书籍信息归属:

超大规模集成电路测试是电子工业出版社于2005.07出版的中图分类号为 TN470.7 的主题关于超大规模集成电路－测试－教材的书籍。