出版社:中国科学技术出版社
年代:2014
定价:38.0
本书主要对近年来航天器研制过程出现的与元器件有关的质量问题案例进行统计和分析,根据案例的性质将这些案例分为了元器件的选择、应用质量问题和固有质量问题三个大类,并对每个案例分别从问题发生的背景、问题产生的原因和机理、采取的措施和问题的启示四个方面进行了阐述。本书涉及的内容广泛、结构清晰,案例和经验均来自于航天器研制实践和航天器用元器件质量保证实践,具有很强的指导意义,主要面向从事航天器研制、电子产品开发、元器件设计和制造、元器件测试分析等工作和相关质量管理工作的读者。
书籍详细信息 | |||
书名 | 宇航用元器件故障分析和处理案例集站内查询相似图书 | ||
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出版地 | 北京 | 出版单位 | 中国科学技术出版社 |
版次 | 1版 | 印次 | 1 |
定价(元) | 38.0 | 语种 | 简体中文 |
尺寸 | 24 × 17 | 装帧 | 平装 |
页数 | 198 | 印数 | 2000 |
宇航用元器件故障分析和处理案例集是中国科学技术出版社于2014.12出版的中图分类号为 V44 的主题关于 航天器-元器件-故障诊断-案例 ,航天器-元器件-故障修复-案例 的书籍。
李峰, 主编
夏泓, 主编
(瑞典) 艾琳娜·杜布罗娃 (Elena Dubrova) , 著
(美) 哈兰 (Harland,D.M) , (美) 洛伦茨 (Lorenz,D.D.) , 著
张利平, 编著
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蒋顺成, 主编
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