几何量公差与检测
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几何量公差与检测

甘永立, 主编

出版社:上海科学技术出版社

年代:2005

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书籍简介:

本书共分绪论,几何量测量基础,孔、轴公差与配合,形状和位置公差与检测,表面粗糙度轮廓及其检测,滚动轴轴的公差与配合,孔、轴检测与量规设计基础,圆铜公差与检测,圆柱螺纹公差与检测,圆柱齿轮公差与检测,键和花键联结的公差与检测,尺寸链等。

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书籍详细信息
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9787532379804
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出版地上海出版单位上海科学技术出版社
版次7版印次27
定价(元)语种简体中文
尺寸26装帧平装
页数 230 印数

书籍信息归属:

几何量公差与检测是上海科学技术出版社于2005.09出版的中图分类号为 TG801 的主题关于 机械元件-测量 ,机械元件-互换性 的书籍。