半导体器件典型缺陷分析和图例

书籍简介:

本书主要论述了如何对半导体器件内部、外部缺陷进行观察判断，并对相关经验进行了总结。

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书籍详细信息
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ISBN	9787504637833 《半导体器件典型缺陷分析和图例》pdf扫描版电子书已有网友提供资源下载链接,请点击下方按钮查看
出版地	北京	出版单位	中国科学技术出版社
版次	1版	印次	1
定价(元)	15.0	语种	简体中文
尺寸	20	装帧	平装
页数		印数	2000

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书籍信息归属:

半导体器件典型缺陷分析和图例是中国科学技术出版社于2004.05出版的中图分类号为 TN389 的主题关于 半导体器件－缺陷－分析 的书籍。