半导体器件典型缺陷分析和图例
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半导体器件典型缺陷分析和图例

张延伟, 主编

出版社:中国科学技术出版社

年代:2004

定价:15.0

书籍简介:

本书主要论述了如何对半导体器件内部、外部缺陷进行观察判断,并对相关经验进行了总结。

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书籍详细信息
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9787504637833
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出版地北京出版单位中国科学技术出版社
版次1版印次1
定价(元)15.0语种简体中文
尺寸20装帧平装
页数印数 2000
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书籍信息归属:

半导体器件典型缺陷分析和图例是中国科学技术出版社于2004.05出版的中图分类号为 TN389 的主题关于 半导体器件-缺陷-分析 的书籍。