书籍简介:

本书较全面地论述并介绍了电子元器件可靠性物理的基础知识和失效分析技术。全书分为四个部分。1、阐述了电子元器件失效分析中的理论基础，包括有关原子物理学、材料学、化学、冶金学及元器件的基本工作原理。介绍了与元器件失效相关的制造工艺和技术。2、论述了失效的物理模型，介绍了失效分析程序、常用的失效分析方法和技术，以及用于失效分析的较先进的微分析技术。3、结合具体的元器件：微电子器件、阻容元件、继电器及连接器、光电子器件和真空电子器件，以及元器件的引线和电极系统的失效模式和失效机理加以剖析，提出了提高电子元器件可靠性的措施。4、阐述了元器件静电放电失效的原理和防护；元器件的辐射效应和抗辐射加固技术。

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书籍详细信息
书名	可靠性物理站内查询相似图书
丛书名	电子元器件质量与可靠性技术丛书
	7121002094 如需购买下载《可靠性物理》pdf扫描版电子书或查询更多相关信息，请直接复制isbn,搜索即可全网搜索该ISBN
出版地	北京	出版单位	电子工业出版社
版次	1版	印次	1
定价(元)	78.0	语种	简体中文
尺寸	26	装帧	平装
页数		印数	5000

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书籍信息归属:

可靠性物理是电子工业出版社于2004.08出版的中图分类号为 TN6 的主题关于电子元件－可靠性物理学的书籍。