出版社:华中科技大学出版社
年代:2017
定价:30.0
本书包括精度设计及检测两个方面,共分14章,内容包括绪论、孔与轴的尺寸极限与配合、测量技术基础、几何公差及检测、表面粗糙度及其检测、光滑工件尺寸检测和量规设计、尺寸链基础、零件典型表面的公差配合与检测、渐开线圆柱齿轮精度及检测、有包容要求的机械零件的检测、键与花键的检测、螺纹的检测、齿轮的检测等内容。内容力求贴近生产实践和我国高职高专学生实践学习要求。本书可作为高职院校机械类或近机类各专业教学用书,也可供企业技术工程人员参考。
书籍详细信息 | |||
书名 | 公差配合与技术测量站内查询相似图书 | ||
9787568028370 如需购买下载《公差配合与技术测量》pdf扫描版电子书或查询更多相关信息,请直接复制isbn,搜索即可全网搜索该ISBN | |||
出版地 | 武汉 | 出版单位 | 华中科技大学出版社 |
版次 | 2版 | 印次 | 1 |
定价(元) | 30.0 | 语种 | 简体中文 |
尺寸 | 26 × 18 | 装帧 | 平装 |
页数 | 印数 |
公差配合与技术测量是华中科技大学出版社于2018.1出版的中图分类号为 TG801 的主题关于 公差-配合-高等职业教育-教材 ,技术测量-高等职业教育-教材 的书籍。