书籍简介:

本书介绍了数字电路综合验证和代数学理论的应用研究现状。然后分五部分分别介绍了多项式符号代数在高层次综合中的应用、多项式符号代数在形式验证中的应用、有限环上多项式在定界模型检验中的应用、进程代数在SoC测试调度中的应用、布尔可满足性在等价验证中的应用以及布尔过程论在逻辑级模拟验证的应用。最后对代数学理论在数字电路综合验证中的应用进行总结，并对未来的进一步研究进行了展望。

书籍规格:

书籍详细信息
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	9787302455608 如需购买下载《数字集成电路功耗与测试综合优化》pdf扫描版电子书或查询更多相关信息，请直接复制isbn,搜索即可全网搜索该ISBN
出版地	北京	出版单位	清华大学出版社
版次	1版	印次	1
定价(元)	48.0	语种	简体中文
尺寸	26 × 19	装帧	平装
页数		印数	1000

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书籍信息归属:

数字集成电路功耗与测试综合优化是清华大学出版社于2016.出版的中图分类号为 TN431.2 的主题关于数字集成电路－研究的书籍。