书籍简介:

本书共11章，以硅集成电路为中心，重点介绍了半导体集成电路及其可靠性的发展演变过程、集成电路制造的基本工艺、半导体集成电路的主要失效机理、可靠性数学、可靠性测试结构的设计、MOS场效应管的特性、失效机理的可靠性仿真和评价。第10章对集成电路的可靠性仿真进行了介绍。第11章用案例演示了失效机理的可靠性评价过程。随着集成电路设计规模越来越大，设计可靠性越来越重要，在设计阶段借助可靠性仿真技术，评价设计出的集成电路可靠性能力，针对电路设计中的可靠性薄弱环节，通过设计加固，可以有效提高产品的可靠性水平，

书籍规格:

书籍详细信息
书名	半导体集成电路的可靠性及评价方法站内查询相似图书
丛书名	可靠性技术丛书
	9787121271601 如需购买下载《半导体集成电路的可靠性及评价方法》pdf扫描版电子书或查询更多相关信息，请直接复制isbn,搜索即可全网搜索该ISBN
出版地	北京	出版单位	电子工业出版社
版次	1版	印次	1
定价(元)	88.0	语种	简体中文
尺寸	24 × 17	装帧	平装
页数		印数

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书籍信息归属:

半导体集成电路的可靠性及评价方法是电子工业出版社于2015.10出版的中图分类号为 TN43 的主题关于半导体集成电路－可靠性－评价的书籍。