书籍简介:

本文的主要内容涉及了在纳米工艺下较为严重的晶体管老化效应-负偏置温度不稳定性（Negative bias temperature instability – NBTI）和制造过程中引起的参数偏差。介绍了参数偏差效应产生的物理机制及对电路服役期可靠性的影响，并提出了从电路级到系统级的相应的分析、预测和优化方法。

书籍规格:

书籍详细信息
书名	纳米数字集成电路的偏差效应分析与优化站内查询相似图书
	9787302522997 如需购买下载《纳米数字集成电路的偏差效应分析与优化》pdf扫描版电子书或查询更多相关信息，请直接复制isbn,搜索即可全网搜索该ISBN
出版地	北京	出版单位	清华大学出版社
版次	1版	印次	1
定价(元)	69.0	语种	简体中文
尺寸	26 × 19	装帧	平装
页数		印数	1200

书籍信息归属:

纳米数字集成电路的偏差效应分析与优化是清华大学出版社于2019.出版的中图分类号为 TN431.2 的主题关于纳米材料－数字集成电路－研究的书籍。