出版社:中国科学技术大学出版社
年代:2009
定价:89.0
绝缘体上硅(SOI)是纳米技术时代的高端硅基材料,是“新一代硅”,是微电子和光电子领域发展的前沿。本书收集纳米技术时代的高端硅基SOI材料方面的论文共40篇,包括SOI材料的进展、制备、特有的物理效应及若干应用。
SOI纳米技术时代的高端硅基材料进展
纳米技术时代的高端硅基材料SOI、sSOI和GOI
SOI技术的发展动态
硅基光电子材料和器件的进展和发展趋势
FabricationofSiGe-on-insulatorandapplicationsforstrainedSi
OverviewofSOImaterialstechnologyinChina
SOI新材料的制备科学
以注氧隔离(SIMOX)技术制备高阻SOI材料
硅中注H+引起的缺陷和应力以及剥离的机制
以AlN为绝缘埋层的新结构SOAN材料
多孔硅外延层转移技术制备SOI材料
ELTRAN技术制备双埋层SOIM新结构
SOI新结构SOI研究的新动向
Fabricationofsilicon.on.AlNnovelstructureanditsresidualstraincharacterization.
BuriedtungstensilicidelayerinsilicononinsulatorsubstratebySmart-cut
Voidfreelow-temperaturesilicondirectbondingtechniqueusingplasmaactivation
MicrostructureandcrystallinityofporoussiliconandepitaxialsiliconlayersfabricatedonP+poroussilicon
Formationofsilicon-on-diamondbydirectbondingofplasma-synthesizeddiamond-likecarbontosilicon
Thermalstabilityofdiamondlikecarbonburiedlayerfabricatedbyplasmaimmersionionimplantationanddepositioninsilicononinsulator
StudyofSOIsubstratesincorporatedwithburiedMoSizlayer
SOI材料与器件特有的物理效应
S0IMOSFET浮体效应研究
SOIMOSFET的自加热效应研究
S0I器件的辐射效应及其在抗辐射电子学方面的应用进展
EvolutionofhydrogenandheliumCO-implantedsingle-crystalsiliconduringannealing
ComparisonbetweenthedifferentimplantationordersinH+andHe+co-implantation
ComparisonofCugetteringtoH~andHe+implantation-inducedcavitiesinseparation-by-implantation-of-oxygenwafers
GetteringofCubymicrocavitiesinbonded/ion-cutsilicon-on-insulatorandseparationbyimplantationofoxygen
SGOI新结构和应变硅的制备科学
SIMOX技术制备SGOI新结构的研究
改良型Ge浓缩技术制备SGOI及应变Si研究
Relaxedsilicon-germanium-on-insulatorsubstratesbyoxygenimplantationintopseudomorphicsilicongermanium/siliconheterostructure
GermaniummovementmechanisminSiGe-on-insulatorfabricatedbymodifiedGecondensation
InvestigationofrelaxedSiGeoninsulatorandstrainedSi
SOI技术的若干应用研究
纳米MOSFET/SOI器件新结构
SOI衬底上的无源器件研究
SGOI衬底上高k栅介质的研究
Highfrequencycapacitance-voltagecharacterizationofA1203/ZrO2/A1203infullydepletedsilicon-on,insulatormetal-oxide-semiconductorcapacitors
Numericalstudyofself-heatingeffectsofMOSFETsfabricatedonSOANsubstrate
Sil-xGex/Siresonant-cavity-enhancedphotodetectorswithasilicon-on-oxidereflectoroperatingnear1.3μm
Totaldoserad-hardimprovementforsilicon-on-insulatormaterialsbymodifyingtheburiedoxidewithionimplantation
InvestigationofH+andB+/H+implantationinLiTaO3single-crystals
InvestigationofSO1substratesincorporatedwithburiedMoSi2forhighfrequencySiGeHBTs
本书所收集的纳米技术时代的高端硅基SOI材料方面的研究论文共40篇,部分是在国外刊物上发表的论文,其出处都已标明版权所有的学术期刊。书中主要包括以下几部分:SOI纳米技术时代的高端硅基材料进展;SOI新材料的制备科学;SOI材料与器件特有的物理效应;SGOI新结构和应变硅的制备科学;SOI技术的若干应用研究。可供各大专院校作为教材使用,也可供从事相关工作的人员作为参考用书使用。 绝缘体上硅(silicononinsulator,SOI)技术在高速、低压低功耗电路、高压电路、抗辐射、耐高温电路、微机械传感器、光电集成等方面具有重要应用,是微电子和光电子领域发展的前沿,被国际上公认为“二十一世纪的硅集成电路技术”。本书收集的纳米技术时代的高端硅基SOI材料方面的研究论文40篇,主要内容包括:SOI纳米技术时代的高端硅基材料进展,SOI新材料的制备科学,SOI材料与器件特有的物理效应,绝缘体上锗硅(silicongermaniumoninsulator,SGOI)新结构和应变硅的制备科学,SOI技术的若干应用研究等。书中包含了高端硅基材料前沿领域的多方面创新研究成果。 本书可作为微电子、光电子、微机械、半导体材料、纳米材料等专业的大专院校师生和专业技术人员重要的参考书,也可以作为信息领域其他专业的师生、科研人员和工程技术人员参考资料。
书籍详细信息 | |||
书名 | SOI站内查询相似图书 | ||
丛书名 | 当代科学技术基础理论与前沿问题研究丛书 | ||
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出版地 | 合肥 | 出版单位 | 中国科学技术大学出版社 |
版次 | 1版 | 印次 | 1 |
定价(元) | 89.0 | 语种 | 简体中文 |
尺寸 | 26 | 装帧 | 平装 |
页数 | 印数 |
SOI是中国科学技术大学出版社于2009.06出版的中图分类号为 TB383-53 的主题关于 硅-纳米材料-文集 的书籍。