书籍简介:

本书主要介绍广泛存在的各种辐射，及其对电子设备和系统的影响，涵盖了造成ULSI器件出错和失效的多种辐射，包括电子、α射线、介子、γ射线、中子和重离子，从物理角度建模，以确定使用何种数学方法来分析辐射效应。本书对多种降低软错误影响的预测、检测、表征和缓解技术进行了分析和讨论。作者还展示了如何对在凝聚态物质中复杂的辐射效应进行建模，以量化和减少其影响，并解释了在环境辐射中电子系统包括服务器和路由器等是如何失效的。

书籍规格:

书籍详细信息
书名	现代集成电路和电子系统的地球环境辐射效应站内查询相似图书
丛书名	国防电子信息技术丛书
	9787121351150 如需购买下载《现代集成电路和电子系统的地球环境辐射效应》pdf扫描版电子书或查询更多相关信息，请直接复制isbn,搜索即可全网搜索该ISBN
出版地	北京	出版单位	电子工业出版社
版次	1版	印次	1
定价(元)	69.0	语种	简体中文
尺寸	26 × 19	装帧	平装
页数		印数

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书籍信息归属:

现代集成电路和电子系统的地球环境辐射效应是电子工业出版社于2018.10出版的中图分类号为 TN4 ,TN103 的主题关于集成电路－全球环境－辐射效应 ,电子系统－全球环境－辐射效应的书籍。