数字射线检测技术

前言

第1章 射线检测技术的物理基础

1.1 射线概念

1.1.1 射线分类

1.1.2 X射线

1.1.3 γ射线

1.2 射线与物质的相互作用

1.2.1 光电效应

1.2.2 康普顿效应

1.2.3 电子对效应

1.2.4 瑞利散射

1.3 射线衰减规律

1.3.1 基本概念

1.3.2 单色窄束射线的衰减规律

1.3.3 宽束连续谱射线的衰减规律

1.4 射线检测技术的基本原理

复习参考题

第2章 辐射探测器与其他器件

2.1 辐射探测器概述

2.1.1 辐射探测器分类

2.1.2 辐射探测器主要性能

2.1.3 辐射探测器基本性能

2.2 直接数字化射线检测技术的辐射探测器

2.2.1 概述

2.2.2 非晶硅辐射探测器

2.2.3 非晶硒辐射探测器

2.2.4 CCD与CMOS辐射探测器

*2.2.5 分立辐射探测器（DDA）的响应校正和坏像素修正

*2.2.6 分立辐射探测器（DDA）的性能特点

2.3 间接数字化射线检测技术的辐射探测器

2.3.1 成像板（IP板）

2.3.2 图像增强器

*2.3.3 IP板系统性能特点

2.4 A/D转换器

2.5 射线检测的像质计与线对卡

2.5.1 像质计概述

2.5.2 常规像质计

2.5.3 双丝型像质计

2.5.4 线对卡

复习参考题

第3章 数字射线检测技术基本理论

3.1 数字图像概念

3.2 图像数字化基本理论

3.2.1 图像数字化过程

3.2.2 采样定理

3.2.3 量化方法

3.3 数字射线检测图像质量

3.3.1 图像对比度

3.3.2 图像空间分辨率

*3.3.3 图像信噪比SNR

*3.4 细节（缺陷）分辨能力

复习参考题

第4章 数字射线检测基本技术

4.1 概述

4.2 探测器系统选择

4.2.1 概述

4.2.2 探测器系统选择的基本依据

*4.2.3 基本空间分辨率选择

*4.2.4 规格化信噪比选择

4.3 数字射线检测透照技术控制

4.3.1 概述

4.3.2 最佳放大倍数

*4.3.3 曝光曲线

*4.3.4 动态检测方式技术控制

4.4 数字射线检测其他技术控制

4.4.1 图像数字化技术控制

4.4.2 图像显示与观察条件

4.4.3 数字图像处理技术

4.4.4 缺陷识别与质量级别评定

*4.4.5 尺寸测量

*4.4.6 厚度测定

4.5 数字射线检测图像质量控制

4.5.1 检测图像质量指标控制

*4.5.2 图像质量的补偿原则

*4.6 数字射线检测技术级别近似设计

*4.6.1 概述

*4.6.2 检测图像常规像质计指标设计

*4.6.3 检测图像不清晰度（空间分辨率）指标设计

*4.6.4 例题

*4.7 数字射线检测技术稳定性控制

*4.7.1 概述

*4.7.2 检验工艺文件（检验程序文件）

*4.7.3 检测系统性能的长期稳定性试验控制

*4.7.4 检验工艺卡编制

复习参考题

第5章 工业常用数字射线检测系统

5.1 概述

5.2 分立辐射探测器（DDA）数字射线检测系统

5.2.1 检测系统组成

5.2.2 DDA检测系统的技术控制

5.2.3 DDA检测系统应用特点

5.3 IP板间接数字化射线检测系统--CR系统

5.3.1 检测系统组成与技术基本过程

5.3.2 CR系统的技术与应用特点

5.4 图像增强器间接数字化射线检测系统

5.4.1 图像增强器检测系统组成

5.4.2 图像增强器检测系统的技术与应用特点

*5.5 微焦点数字化射线检测系统

*5.6 底片图像数字化扫描技术

*5.6.1 扫描仪概述

*5.6.2 扫描仪的基本性能指标

*5.6.3 扫描技术

*5.6.4 扫描仪选用

复习参考题

*第6章 等价性问题讨论

*6.1 概述

*6.2 等价指标问题分析

*6.3 等价技术级别评定

*6.3.1 概述

*6.3.2 被检验工件基本分析

*6.3.3 数字射线检测系统基本性能测定评定

*6.3.4 数字射线检测系统检验试验

*6.3.5 等价技术级别评定方法

*6.3.6 例题

*6.4 等价范围问题的理论处理方法

*6.4.1 概述

*6.4.2 两种射线检测技术系统概括

*6.4.3 等价范围问题解答的基本理论

*6.4.4 矩形函数近似线扩散函数的近似处理

复习参考题

第7章 数字射线检测技术标准介绍

7.1 国外数字射线检测技术标准编制概况

*7.2 ASTM E25972007标准关于DDA基本性能测定的规定

*7.2.1 DDA基本空间分辨率测定规定

*7.2.2 DDA规格化信噪比测定规定

*7.3 ASTM E273710标准关于DDA基本性能测定的规定

*7.3.1 DDA系统性能测定试验的总要求

*7.3.2 试件

*7.3.3 双厚（度）板与单独像质计的测定试验规定

*7.4 ASTM E2446-2005标准关于IP板系统基本性能测定规定

*7.4.1 IP板系统基本空间分辨力测定

*7.4.2 IP板系统规格化信噪比测量

*7.5 ASTM E244510标准关于IP板系统基本性能测定的规定

*7.5.1 试验要求

*7.5.2 IP板系统基本空间分辨率测定试验

*7.5.3 IP板系统规格化信噪比测定试验

7.6 ISO 176362:2013标准简要介绍

7.6.1 ISO 176362:2013标准概况

7.6.2 标准规定内容的基本结构

7.6.3 标准主要规定内容

*7.6.4 对标准等价性说明的简单分析

复习参考题

第8章 数字检测技术实验

8.1 辐射探测器系统基本性能测定实验

实验1 DDA辐射探测器基本空间分辨率与MTF测定

实验2 DDA辐射探测器规格化（标准、归一）信噪比测定

8.2 辐射探测器系统性能对缺陷检验的影响

实验3 DDA辐射探测器像素尺寸对缺陷检验的影响

实验4 IP板扫描读出参数对缺陷检验的影响

8.3 数字射线检查技术的最佳（几何）放大倍数

实验5 放大倍数对检测图像空间分辨率的影响

8.4 ISO 176362：2013标准规定的补偿规则实验

实验6 曝光量对检测图像质量的影响

附录

附录A 辐射探测器介绍

A.1 辐射探测器的物理基础

A.2 气体探测器

A.3 闪烁探测器

A.4 半导体辐射探测器

A.5 半导体探测器的辐射损伤

附录B 采样定理说明

B.1 采样概念

B.2 采样定理概念

B.3 采样定理讨论方法

B.4 采样定理确定方法

附录C 成像过程基本理论

C.1 成像过程概念

C.2 成像过程的空间域分析

C.3 成像过程的空间频域分析

C.4 线扩散函数、边扩散函数与不清晰度

C.5 卷积概念与傅里叶变换的概念

附录D 部分复习参考题答案

参考文献

《无损检测2级、3级培训教材：数字射线检测技术》是根据ISO176362：2013标准编写的数字射线检测技术培训教材。本书针对已掌握了常规射线检测技术的人员，提供系统性的工业应用数字射线检测技术基础知识，包括射线检测技术的物理基础，数字射线检测的设备、基本理论、基本技术，等价性问题，技术标准介绍等大量实际技术处理内容，并精心设计了实验项目和复习参考题。附录中深入介绍了与数字射线检测技术相关的辐射探测器、采样定理和成像过程基本理论，并给出部分复习参考题的答案。
　　本书适合作为数字射线检测Ⅱ、Ⅲ级人员的培训教材，书中标“*”的内容只要求Ⅲ级人员掌握，对Ⅱ级人员不要求。

适读人群 ：作为数字射线检测Ⅱ、Ⅲ级人员的培训教材

　　《无损检测2级、3级培训教材：数字射线检测技术》一书第1版出版后，受到了工业无损检测技术界的广泛关注。本书第2版以编写成适宜作为工业应用的数字射线检测技术培训教材为目标，以构成解决实际检测问题的检测技术系统为内在线索，重新组织第1版的内容，简化、改写了一些理论性内容，补充了大量实际技术处理内容，编写了相关标准内容介绍、实验与复习参考题。本书适合作为数字射线检测Ⅱ、Ⅲ级人员的培训