IGBT疲劳失效机理及其健康状态监测

书籍简介:

本书通过详细分析IGBT芯片与封装疲劳失效机理，在研究失效特征量随疲劳老化时间变化规律的基础之上，通过将理论分析与解析描述相结合，建立了IGBT相关电气特征量的健康状态监测方法，对处于不同寿命阶段的IGBT器件健康状态进行有效评估。本书可作为从事电力电子技术理论与工程的技术人员的参考书，也可作为电力电子与电力传动专业的本科生、硕士和博士研究生，以及从事电力电子器件方面研究的师生与研究人员的参考书。

书籍规格:

书籍信息归属:

IGBT疲劳失效机理及其健康状态监测是机械工业出版社于2019.8出版的中图分类号为 TN386.2 的主题关于 绝缘栅场效应晶体管－疲劳机理－监测 的书籍。