书籍简介:

本书系统的阐述了基本电子元器件噪声及检测技术。在噪声理论方面，主要介绍金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFET）、雪崩二极管、PHEMT器件的基本噪声模型、分类及特点。在测试技术方面，分析了偏置技术、低噪声放大技术、数据采集技术、噪声参数提取技术与测试误差分析方法。在噪声应用方面，主要介绍纳米MOSFET器件、电阻器、光调制器驱动器及微波与射频器件。

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书籍详细信息
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	9787502281489 如需购买下载《基本电子元器件的噪声及其测试技术》pdf扫描版电子书或查询更多相关信息，请直接复制isbn,搜索即可全网搜索该ISBN
出版地	北京	出版单位	中国原子能出版社
版次	1版	印次	1
定价(元)	30.0	语种	简体中文
尺寸	24 × 18	装帧	平装
页数	230	印数	300

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书籍信息归属:

基本电子元器件的噪声及其测试技术是中国原子能出版社于2017.6出版的中图分类号为 TN606 的主题关于电子元器件－噪声测量的书籍。