基本电子元器件的噪声及其测试技术

书籍简介:

本书系统的阐述了基本电子元器件噪声及检测技术。在噪声理论方面，主要介绍金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFET）、雪崩二极管、PHEMT器件的基本噪声模型、分类及特点。在测试技术方面，分析了偏置技术、低噪声放大技术、数据采集技术、噪声参数提取技术与测试误差分析方法。在噪声应用方面，主要介绍纳米MOSFET器件、电阻器、光调制器驱动器及微波与射频器件。

书籍规格:

书籍信息归属:

基本电子元器件的噪声及其测试技术是中国原子能出版社于2017.6出版的中图分类号为 TN606 的主题关于 电子元器件－噪声测量 的书籍。