材料的透射电子显微学与衍射学
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材料的透射电子显微学与衍射学

(美) 布伦特·福尔兹 (Brent Fultz) , (美) 詹姆斯·豪 (James Howe) , 著

出版社:中国科学技术大学出版社

年代:2016

定价:60.0

书籍简介:

本书介绍了表征物质材料的透射型电子显微镜(TEM)和X-射线衍射(XRD)。与第三版相比,这一版所有章节都进行了更新和修订,并增加了与TEM有关的重要的新技术,如纳米束衍射、电子断层扫描和几何相位分析技术。这本书解释了波与固体中原子相互作用的基本原理,以及利用X-射线、电子、中子衍射测量的相似点和区别,并对结晶序的衍射效应、缺陷和无序材料进行了详细解释。

书籍规格:

书籍详细信息
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9787312037498
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出版地合肥出版单位中国科学技术大学出版社
版次1版印次1
定价(元)60.0语种简体中文
尺寸24 × 17装帧平装
页数印数

书籍信息归属:

材料的透射电子显微学与衍射学是中国科学技术大学出版社于2017.1出版的中图分类号为 TB302 的主题关于 工程材料-透射电子显微术 ,工程材料-X射线衍射 的书籍。