高介电常数氧化物绝缘栅MOSFET数值研究
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高介电常数氧化物绝缘栅MOSFET数值研究

王建利, 著

出版社:中国矿业大学出版社

年代:2020

定价:36.0

书籍简介:

本书以作者多年的研究成果为基础,系统地介绍了半导体材料与电子器件的物理特性,重点介绍了高K氧化物绝缘栅与相关半导体材料。全书共6章,包括金属氧化物半导体场效应管、Si/LaAlO3异质结的稳定性和带阶、Ge基金属氧化物半导体场效应晶体管、GaAs基金属氧化物半导体场效应晶体管、氮化物基金属氧化物半导体场效应晶体管和ZnO基金属氧化物半导体场效应晶体管。本书可供物理学、微电子学和材料科学领域的研究生与科研人员阅读参考。

书籍规格:

书籍详细信息
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9787564646967
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出版地徐州出版单位中国矿业大学出版社
版次1版印次1
定价(元)36.0语种简体中文
尺寸26 × 18装帧平装
页数印数

书籍信息归属:

高介电常数氧化物绝缘栅MOSFET数值研究是中国矿业大学出版社于2020.4出版的中图分类号为 TN323 的主题关于 绝缘栅场效应晶体管-功率MOSFET-数值-研究 的书籍。