出版社:中国矿业大学出版社
年代:2020
定价:36.0
本书以作者多年的研究成果为基础,系统地介绍了半导体材料与电子器件的物理特性,重点介绍了高K氧化物绝缘栅与相关半导体材料。全书共6章,包括金属氧化物半导体场效应管、Si/LaAlO3异质结的稳定性和带阶、Ge基金属氧化物半导体场效应晶体管、GaAs基金属氧化物半导体场效应晶体管、氮化物基金属氧化物半导体场效应晶体管和ZnO基金属氧化物半导体场效应晶体管。本书可供物理学、微电子学和材料科学领域的研究生与科研人员阅读参考。
书籍详细信息 | |||
书名 | 高介电常数氧化物绝缘栅MOSFET数值研究站内查询相似图书 | ||
9787564646967 如需购买下载《高介电常数氧化物绝缘栅MOSFET数值研究》pdf扫描版电子书或查询更多相关信息,请直接复制isbn,搜索即可全网搜索该ISBN | |||
出版地 | 徐州 | 出版单位 | 中国矿业大学出版社 |
版次 | 1版 | 印次 | 1 |
定价(元) | 36.0 | 语种 | 简体中文 |
尺寸 | 26 × 18 | 装帧 | 平装 |
页数 | 印数 |
高介电常数氧化物绝缘栅MOSFET数值研究是中国矿业大学出版社于2020.4出版的中图分类号为 TN323 的主题关于 绝缘栅场效应晶体管-功率MOSFET-数值-研究 的书籍。
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