出版社:电子工业出版社
年代:2016
定价:69.0
本书主要讲述电子器件在空间环境中的单粒子效应,器件在空间应用时单粒子辐照效应的地面评估方法,及其空间应用时的错误概率计算。全书共16章,第1章和第2章主要介绍电子元器件空间单粒子效应的基础知识;第3章至第5章对地面模拟空间单粒子效应的试验进行详细介绍、阐述试验数据的分析方法;第6章讲述试验数据如何与器件机理进行对应;第7章、第8章、第11章至第16章讲述空间单粒子翻转错误率的计算与空间环境中的预估;第9章和第10章介绍两种特殊的单粒子效应。
(美) 麦逊哲 (Messenger,G.C.) , (美) 阿什 (Milton,S.A.) , 著
于登云, 等著
陈荣梅, 著
王跃科, 邢克飞, 杨俊, 张传胜, 著
方进勇, 编著
黄时中, 著
杜东生, 杨茂志, 著
杜东生, 杨茂志, 著
(德) 格鲁彭, (俄罗斯) 施瓦兹, 著