书籍简介:

本书主要描述半导体材料的主要测试分析技术，介绍各种测试技术的基本原理、仪器结构、样品制备和分析实例，主要包括载流子浓度(电阻率)、少数载流子寿命、发光等性能以及杂质和缺陷的测试，其测试分析技术涉及到四探针电阻率测试、无接触电阻率测试、扩展电阻、微波光电导衰减测试、霍尔效应测试、红外光谱测试、深能级瞬态谱测试、正电子湮灭测试、荧光光谱测试、电子束诱生电流测试、I-V和C-V等。

书籍规格:

书籍详细信息
书名	半导体材料测试与分析站内查询相似图书
丛书名	半导体科学与技术丛书
	9787030270368 如需购买下载《半导体材料测试与分析》pdf扫描版电子书或查询更多相关信息，请直接复制isbn,搜索即可全网搜索该ISBN
出版地	北京	出版单位	科学出版社
版次	1版	印次	1
定价(元)	72.0	语种	简体中文
尺寸	24 × 17	装帧	平装
页数	384	印数

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书籍信息归属:

半导体材料测试与分析是科学出版社于2010.4出版的中图分类号为 TN304.07 的主题关于半导体材料－测试的书籍。