光电器件测试技术
光电器件测试技术封面图

光电器件测试技术

彭晓雷, 张逊民, 主编

出版社:电子工业出版社

年代:2011

定价:12.0

书籍简介:

全书共分8个项目,项目一介绍光电器件测试的概念;项目二介绍常见光通量的测试原理;项目三介绍常见光谱特性分析原理及方法、光谱分析系统的组成及使用;项目四介绍节能灯光电参数的测试;项目五介绍LED光电参数测试的方法;项目六介绍LED空间光色分布的测量方法;项目七介绍照度计、亮度计和色度计的作用、原理及意义;项目八介绍老化试验和加速环境模拟试验的原理、目的、意义和操作。上述光电器件测试技术广泛地应用于工业、农业、文教、卫生、国防、科研和家庭生活等各个领域。

书籍规格:

书籍详细信息
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9787121138096
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出版地北京出版单位电子工业出版社
版次1版印次1
定价(元)12.0语种简体中文
尺寸26 × 18装帧平装
页数 108 印数

书籍信息归属:

光电器件测试技术是电子工业出版社于2011.7出版的中图分类号为 TN206 的主题关于 光电器件-测试技术-中等专业学校-教材 的书籍。