书籍简介:

本书共11章，第1~4章讨论了材料结构、形貌、成分的表征分析方法，详细分析了各测试技术的原理、技术特点、制样方法以及分析方法；第5~7章介绍了紫外-可见吸收光谱、拉曼光谱、以及傅里叶变换红外光谱；第8~9章讨论了电阻率测试方法以及霍尔效应，研究四探针测试技术中的共性问题，分析表面光电压技术的原理以及测试方法；第10~11章讨论了瞬态及稳态光谱在半导体材料测试分析中的应用。

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书籍详细信息
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	9787560377919 如需购买下载《半导体材料测试技术》pdf扫描版电子书或查询更多相关信息，请直接复制isbn,搜索即可全网搜索该ISBN
出版地	哈尔滨	出版单位	哈尔滨工业大学出版社
版次	1版	印次	1
定价(元)	38.0	语种	简体中文
尺寸	16 × 23	装帧	平装
页数		印数

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书籍信息归属:

半导体材料测试技术是哈尔滨工业大学出版社于2018.12出版的中图分类号为 TN304.07 的主题关于半导体材料－测试技术的书籍。